Theorie

Über

Die Theorie der Elektronenmikroskopie umfasst die Modellierung aller Komponenten eines Mikroskops und die Wechselwirkung der Elektronen mit der zu untersuchenden Probe, sowie die Simulation und Interpretation der experimentell gemessenen Spektren und Bilder. Darüber hinaus befasst sich die Elektronenoptik mit der Modellierung und Simulation neuartiger optischer Komponenten. Die Anwendung der Theorie führt zur Entwicklung numerischer Algorithmen für die digitale Bildverarbeitung, die auf vielfältige Weise zur Lösung materialwissenschaftlicher Probleme eingesetzt wird.

Forschungsthemen

  • Instrumentenentwicklung und -verbesserung
  • Charakterisierung der Mikroskopleistung und Auflösungsbewertung
  • Mikroskopcharakterisierung und Aberrationsmessung
  • Aberrationsüberwachung und -korrektur
  • Quantitative hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie
  • Numerische Bildanalyse, Bildsimulation und Datenverarbeitung
  • Simulation von HRTEM/HRSTEM-Bildgebung und Entwicklung von Phasenabrufmethoden
  • Wellenfunktionsrekonstruktion
  • Theorie der Elektronenbeugung und -bildgebung
  • Simulation der Elektronenstreuung und Lösung des inversen Streuproblems
  • Elektrostatische Potentialrekonstruktion
  • Theorie und Charakterisierung von Elektronendetektoren

    • Kontakt

    Dr. Markus Lentzen

    Staff Scientist, ER-C-1

    • er-c
    • er-c-1
    Gebäude 05.7 /
    Raum 2020
    +49 2461/61-85177
    E-Mail

    Ausgewählte Publikationen

    Lentzen, M. (2023). Spin-Dependent Nonlinear Contrast Transfer in Transmission Electron Microscopy. Microscopy and microanalysis, 29(1), 418-426.

    Urban, K. W., Barthel, J., Houben, L., Jia, C. L., Jin, L., Lentzen, M., Mi, S.-B., Thust, A. & Tillmann, K. (2023). Progress in atomic-resolution aberration corrected conventional transmission electron microscopy (CTEM). Progress in Materials Science, 133, 101037.

    Lentzen, M. (2019). Relativistic correction of atomic scattering factors for high-energy electron diffraction. Foundations of Crystallography, 75(6), 861-865.

    Lentzen, M. (2017). The refractive index in electron microscopy and the errors of its approximations. Ultramicroscopy, 176, 139-145.

    Barthel, J., Lentzen, M., & Thust, A. (2017). On the influence of the electron dose rate on the HRTEM image contrast. Ultramicroscopy, 176, 37-45.

    Lentzen, M. (2014). No surprise in the first born approximation for electron scattering. Ultramicroscopy, 136, 201-210.

    Jia, C. L., Barthel, J., Gunkel, F., Dittmann, R., Hoffmann-Eifert, S., Houben, L., Lentzen, M., & Thust, A. (2013). Atomic-scale measurement of structure and chemistry of a single-unit-cell layer of LaAlO3 embedded in SrTiO3. Microscopy and Microanalysis, 19(2), 310-318.

    Urban, K. W., Jia, C. L., Houben, L., Lentzen, M., Mi, S. B., & Tillmann, K. (2009). Negative spherical aberration ultrahigh-resolution imaging in corrected transmission electron microscopy. Philosophical Transactions of the Royal Society A: Mathematical, Physical and Engineering Sciences, 367(1903), 3735-3753.

    Lentzen, M. (2008). Contrast transfer and resolution limits for sub-angstrom high-resolution transmission electron microscopy. Microscopy and microanalysis, 14(1), 16-26.

    Lentzen, M. (2006). Progress in aberration-corrected high-resolution transmission electron microscopy using hardware aberration correction. Microscopy and Microanalysis, 12(3), 191-205.

    Jia, C. L., Lentzen, M., & Urban, K. (2004). High-resolution transmission electron microscopy using negative spherical aberration. Microscopy and Microanalysis, 10(2), 174-184.

    Lentzen, M., Jia, C. L., & Urban, K. (2003). Atomic Structure Imaging Using an Aberration-Corrected Transmission Electron Microscope. Microscopy and Microanalysis, 9(S03), 48-49.

    Letzte Änderung: 10.04.2025
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